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智能高低溫冷熱循環交變沖擊試驗機
智能(neng)高低溫冷熱循環交(jiao)變(bian)(bian)沖(chong)擊試驗機供應(ying)商(shang)適用于半導體(ti)、電(dian)子電(dian)器零(ling)組(zu)件(jian)、化學材料、金屬材料、自動(dong)化零(ling)部(bu)件(jian)、通訊(xun)組(zu)件(jian)、國(guo)防工(gong)業、航天工(gong)業、BGA、PCB基板、電(dian)子芯片(pian)IC、及高分子材料之(zhi)物(wu)理變(bian)(bian)化的理想(xiang)測試設備。
更新時間:2024-04-07
塑料材料耐低溫沖擊機供應商
塑料(liao)材(cai)料(liao)耐低溫沖擊機供應商適用于(yu)半導體、電子(zi)電器零(ling)組件(jian)、化(hua)學材(cai)料(liao)、金屬材(cai)料(liao)、自動(dong)化(hua)零(ling)部(bu)件(jian)、通訊組件(jian)、國防工業、航天工業、BGA、PCB基板(ban)、電子(zi)芯片IC、及高分(fen)子(zi)材(cai)料(liao)之物理變化(hua)的(de)理想測(ce)試設備。
更新時間:2024-04-02
研究所常用溫度沖擊試驗箱
研(yan)究所常用溫度(du)沖擊試(shi)驗(yan)箱適用于半導體、電子電器(qi)零組(zu)(zu)件(jian)、化學材料(liao)、金屬(shu)材料(liao)、自(zi)動(dong)化零部件(jian)、通(tong)訊組(zu)(zu)件(jian)、國防工業、航(hang)天工業、BGA、PCB基(ji)板、電子芯(xin)片IC、及高分子材料(liao)之物理變(bian)化的(de)理想(xiang)測試(shi)設備。
更新時間:2024-03-26
杭州高低溫沖擊試驗箱銷售公司
杭州高(gao)低溫(wen)沖擊試(shi)驗箱銷售公司適用于半導體(ti)、電(dian)子(zi)電(dian)器(qi)零組件、化(hua)學材料(liao)、金屬材料(liao)、自動化(hua)零部件、通訊組件、國防工業(ye)、航天工業(ye)、BGA、PCB基板、電(dian)子(zi)芯片IC、及高(gao)分子(zi)材料(liao)之物理(li)變化(hua)的理(li)想(xiang)測試(shi)設(she)備。
更新時間:2024-03-25
半導體芯片行業冷熱沖擊實驗機
半導體(ti)芯片(pian)行(xing)業冷熱沖擊實驗機(ji)適(shi)用于半導體(ti)、電(dian)子(zi)電(dian)器零組件、化(hua)(hua)學(xue)材(cai)料(liao)、金(jin)屬材(cai)料(liao)、自動化(hua)(hua)零部件、通訊組件、國(guo)防工業、航天工業、BGA、PCB基板、電(dian)子(zi)芯片(pian)IC、及高(gao)分子(zi)材(cai)料(liao)之物理(li)變化(hua)(hua)的理(li)想(xiang)測試(shi)設備。
更新時間:2024-03-25
鋰電池電車電池冷熱沖擊實驗箱
鋰電池電車(che)電池冷熱沖擊實驗箱適用(yong)于(yu)半(ban)導體、電子電器零組(zu)件、化(hua)學材料、金屬材料、自動化(hua)零部件、通訊組(zu)件、國(guo)防工(gong)業、航天工(gong)業、BGA、PCB基板、電子芯片(pian)IC、及高分子材料之物理變(bian)化(hua)的理想測試設備。
更新時間:2024-03-25
高低溫沖擊試驗箱銷售公司
高低(di)溫(wen)沖擊試驗箱銷售公(gong)司適用于半導(dao)體、電子(zi)電器零組(zu)件、化(hua)學材料(liao)(liao)、金屬材料(liao)(liao)、自(zi)動(dong)化(hua)零部件、通訊組(zu)件、國防工(gong)(gong)業、航天工(gong)(gong)業、BGA、PCB基(ji)板(ban)、電子(zi)芯片IC、及高分子(zi)材料(liao)(liao)之物理(li)變化(hua)的理(li)想測(ce)試設備。
更新時間:2024-03-22
手機電腦芯片冷熱沖擊實驗箱
手機電腦芯片冷熱沖擊實(shi)驗箱適用于半導(dao)體、電子電器零組(zu)件(jian)、化學材料、金(jin)屬材料、自動化零部件(jian)、通訊組(zu)件(jian)、國防工(gong)業、航天工(gong)業、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高(gao)分子材料之物理變(bian)化的理想測試設備。
更新時間:2024-03-22
PCB線路板冷熱沖擊實驗箱
PCB線路(lu)板(ban)冷熱沖(chong)擊實驗箱適用于半導(dao)體、電子(zi)電器零(ling)組件(jian)、化(hua)(hua)學材(cai)料(liao)、金屬(shu)材(cai)料(liao)、自動化(hua)(hua)零(ling)部件(jian)、通(tong)訊組件(jian)、國(guo)防(fang)工業、航天工業、BGA、PCB基(ji)板(ban)、電子(zi)芯片IC、及(ji)高分子(zi)材(cai)料(liao)之物理變化(hua)(hua)的理想測試(shi)設備。
更新時間:2024-03-21
半導體熱轉印高低溫冷熱沖擊試驗機
半導體熱轉印高(gao)低溫(wen)冷熱沖擊試驗機適用于半導體、電(dian)子電(dian)器(qi)零(ling)組件、化(hua)學材(cai)料(liao)(liao)、金屬材(cai)料(liao)(liao)、自動化(hua)零(ling)部(bu)件、通訊組件、國防工(gong)業(ye)、航天工(gong)業(ye)、BGA、PCB基板、電(dian)子芯(xin)片IC、及(ji)高(gao)分子材(cai)料(liao)(liao)之物理變化(hua)的理想測試設備。
更新時間:2024-03-19
快速溫變循環沖擊試驗機
快速溫變循環沖擊試驗(yan)機用于半導體(ti)、電子電器零組件(jian)、化(hua)(hua)學材料(liao)、金屬材料(liao)、自動化(hua)(hua)零部件(jian)、通訊組件(jian)、國防工業(ye)、航(hang)天(tian)工業(ye)、BGA、PCB基板(ban)、電子芯片IC、及(ji)高分(fen)子材料(liao)之物(wu)理變化(hua)(hua)的理想(xiang)測試設備。
更新時間:2024-03-18
實驗室用冷熱沖擊試驗機
實驗室用(yong)(yong)冷熱(re)沖擊試驗機用(yong)(yong)于(yu)半導體、電子(zi)(zi)電器零(ling)組件(jian)(jian)、化學材(cai)(cai)料(liao)、金(jin)屬(shu)材(cai)(cai)料(liao)、自(zi)動化零(ling)部件(jian)(jian)、通(tong)訊(xun)組件(jian)(jian)、國防工業、航天(tian)工業、BGA、PCB基板、電子(zi)(zi)芯片IC、及高分子(zi)(zi)材(cai)(cai)料(liao)之物(wu)理變化的理想測試設(she)備(bei)。
更新時間:2024-03-18
PCB線路板高低溫沖擊試驗箱
PCB線(xian)路板(ban)高低溫沖擊試驗箱適用于半導(dao)體、電子電器零組(zu)件、化(hua)(hua)學材料(liao)、金屬材料(liao)、自(zi)動化(hua)(hua)零部件、通訊組(zu)件、國防工(gong)業(ye)、航天(tian)工(gong)業(ye)、BGA、PCB基板(ban)、電子芯片IC、及高分子材料(liao)之物理變(bian)化(hua)(hua)的理想(xiang)測試設備。
更新時間:2024-03-16
兩箱上冷下熱溫度沖擊試驗箱
兩箱(xiang)上冷下熱溫度沖擊試(shi)驗(yan)箱(xiang)適用于半(ban)導體、電子電器(qi)零組件(jian)(jian)、化(hua)學材料、金屬材料、自(zi)動化(hua)零部件(jian)(jian)、通訊(xun)組件(jian)(jian)、國防工業、航天工業、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高(gao)分子材料之(zhi)物理變化(hua)的理想測試(shi)設備(bei)。
更新時間:2024-03-16
學校用冷熱沖擊試驗箱
學校用冷熱沖(chong)擊試驗(yan)箱用于半(ban)導體(ti)、電(dian)子(zi)(zi)電(dian)器零組(zu)件(jian)、化學材(cai)料、金屬材(cai)料、自(zi)動化零部件(jian)、通訊組(zu)件(jian)、國防工業、航(hang)天工業、BGA、PCB基板(ban)、電(dian)子(zi)(zi)芯片IC、及高分(fen)子(zi)(zi)材(cai)料之物(wu)理變化的理想測試設備。
更新時間:2024-03-15
上下移動的溫度沖擊試驗箱
上(shang)下移(yi)動(dong)的(de)溫度沖(chong)擊試驗箱適(shi)用于(yu)半(ban)導體、電子(zi)電器(qi)零組件(jian)(jian)(jian)、化學材(cai)料(liao)、金屬材(cai)料(liao)、自動(dong)化零部件(jian)(jian)(jian)、通訊組件(jian)(jian)(jian)、國防工業、航天(tian)工業、BGA、PCB基板(ban)、電子(zi)芯片IC、及高分子(zi)材(cai)料(liao)之(zhi)物(wu)理(li)(li)變化的(de)理(li)(li)想測試設備。
更新時間:2024-03-15
球墨鑄鐵底溫沖擊實驗裝置
球墨鑄鐵底溫沖擊實(shi)驗裝置適用(yong)于半導體、電子(zi)電器零組件、化學(xue)材料(liao)、金屬材料(liao)、自動化零部件、通訊組件、國防工(gong)業、航天工(gong)業、BGA、PCB基板、電子(zi)芯片IC、及高分子(zi)材料(liao)之物理變化的(de)理想(xiang)測試設備。
更新時間:2024-03-15
高溫冷熱沖擊試驗設備
高(gao)(gao)溫(wen)冷熱(re)沖擊試驗設備適用于半導(dao)體、電子(zi)電器零組件(jian)、化學材料、金屬(shu)材料、自動化零部件(jian)、通訊(xun)組件(jian)、國防工(gong)業、航天工(gong)業、BGA、PCB基板、電子(zi)芯片IC、及高(gao)(gao)分子(zi)材料之物理(li)變化的理(li)想測試設備。
更新時間:2024-03-12
408L冷熱沖擊試驗箱
408L冷熱沖擊(ji)試驗(yan)箱適用(yong)于半(ban)導體、電子(zi)電器零組件(jian)、化(hua)學(xue)材料(liao)(liao)(liao)、金(jin)屬材料(liao)(liao)(liao)、自動化(hua)零部件(jian)、通訊(xun)組件(jian)、國防工(gong)業、航天工(gong)業、BGA、PCB基板、電子(zi)芯片(pian)IC、及高分子(zi)材料(liao)(liao)(liao)之物理變化(hua)的理想測(ce)試設備。
更新時間:2024-03-11
sop封裝高低溫沖擊試驗箱
sop封裝(zhuang)高(gao)低溫(wen)沖(chong)擊(ji)試(shi)驗箱(xiang)適用于半導(dao)體、電(dian)子(zi)電(dian)器零組(zu)件、化(hua)學材料、金屬材料、自(zi)動化(hua)零部件、通訊組(zu)件、國防工(gong)業、航天(tian)工(gong)業、BGA、PCB基板、電(dian)子(zi)芯片IC、及(ji)高(gao)分(fen)子(zi)材料之物理(li)變化(hua)的(de)理(li)想測試(shi)設備。
更新時間:2024-03-11