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led冷熱沖擊試驗箱選型(xing)采用的計測裝(zhuang)置，大型(xing)LCD彩色液晶觸控(kong)對話式控(kong)制器,操(cao)作(zuo)簡(jian)單, 學習容易(yi), 穩定可(ke)靠
更新時間:2023-08-16
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冷熱(re)沖(chong)擊試驗箱(xiang) 用(yong)于高(gao)分子材(cai)(cai)料之物理(li)牲變(bian)化(hua),測(ce)試其材(cai)(cai)料對(dui)高(gao)、低(di)溫(wen)的(de)(de)反(fan)復抵(di)拉(la)力及產品(pin)(pin)于熱(re)脹冷縮產出的(de)(de)化(hua)學變(bian)化(hua)或(huo)物理(li)傷(shang)害，可確認(ren)產品(pin)(pin)的(de)(de)品(pin)(pin)質(zhi),從的(de)(de)IC到重(zhong)機械的(de)(de)組件，不(bu)需要它的(de)(de)理(li)想測(ce)試工具
更新時間:2023-08-19
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簡介(jie)：高低溫（冷熱）沖擊試(shi)驗箱(xiang)是金屬(shu)、塑(su)料(liao)、橡膠(jiao)、電子等材(cai)料(liao)行業(ye)*的(de)(de)測試(shi)設備，用于測試(shi)材(cai)料(liao)結構或復合(he)材(cai)料(liao)，在(zai)瞬間下經高溫及低溫的(de)(de)連續環境下忍(ren)受的(de)(de)程(cheng)度，得以(yi)在(zai)Z短時(shi)間內檢測試(shi)樣因(yin)熱脹(zhang)冷縮所引起(qi)的(de)(de)化學變(bian)化或物理傷害(hai)。
更新時間:2023-08-18|
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光伏組件三(san)箱(xiang)高(gao)低溫(wen)沖擊實(shi)驗機(ji)采用(yong)韓TEMI880控制器人(ren)機(ji)界(jie)面友好，程序設定方便，異常(chang)及故(gu)障排除顯示功能(neng)齊。
更新時間:2023-08-18
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led冷熱(re)沖(chong)擊試(shi)驗(yan)箱不需要使(shi)用液態氣體(ti)(ti)(LN2或LCO2)輔(fu)助(zhu)降溫，待測物完靜止(zhi)測試(shi)方(fang)式是當電子部品測試(shi)、研究(jiu)、以及半導體(ti)(ti)生產線大量適用
更新時間:2023-08-17
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led冷熱(re)沖擊試驗(yan)箱是用來測(ce)試材(cai)料結構(gou)或復(fu)合材(cai)料，在瞬間下(xia)經高溫(wen)及低(di)溫(wen)的(de)連續環境(jing)下(xia)所能忍受的(de)程(cheng)度
更新時間:2023-08-17
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工(gong)業冷熱(re)沖擊檢驗(yan)箱出(chu)于工(gong)業產品(pin)對于熱(re)漲冷縮所產生(sheng)的(de)化(hua)學(xue)變化(hua)或物理傷害用(yong)(yong)此(ci)試驗(yan)箱能夠很好的(de)做測試。適用(yong)(yong)于所有(you)工(gong)業材料、工(gong)業產品(pin)的(de)成(cheng)品(pin)或者半成(cheng)品(pin)。東(dong)莞(guan)市愛(ai)佩試驗(yan)設備有(you)限公(gong)司(si)規模大、銷量(liang)大、技術(shu)成(cheng)熟、*、質量(liang)也有(you)保(bao)證、且售后服務保(bao)證承(cheng)諾時效，讓大家永后顧(gu)之憂(you)。
更新時間:2023-08-17
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光電三箱式高低(di)溫(wen)沖(chong)擊(ji)箱分高溫(wen)區(qu)、低(di)溫(wen)區(qu)、測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)區(qu)三部分，測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)樣品放置測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)區(qu)完(wan)靜(jing)止，采用(yong)*之蓄(xu)熱(re)、蓄(xu)冷結構(gou)，強(qiang)制(zhi)冷熱(re)風(feng)路切換方(fang)式導入測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)區(qu)，完(wan)成(cheng)冷熱(re)溫(wen)度(du)沖(chong)擊(ji)測(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)；既可作冷熱(re)沖(chong)擊(ji)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱使用(yong)又(you)可以(yi)作單獨的(de)高溫(wen)箱或單獨的(de)低(di)溫(wen)箱使用(yong)。冷熱(re)沖(chong)擊(ji)試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱附屬功能(neng) 定(ding)時器、超(chao)溫(wen)保護(hu)、傳感器上(shang)下(xia)風(feng)選擇、停(ting)電保護(hu)、報警記(ji)錄、試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)曲線記(ji)錄、試(shi)(shi)(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)暫停(ting)、程序運(yun)行時間(jian)顯(xian)示。
更新時間:2023-08-17|
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風冷式冷熱(re)沖擊(ji)試(shi)(shi)(shi)驗機測(ce)試(shi)(shi)(shi)產(chan)品于熱(re)脹冷縮(suo)所(suo)產(chan)生的化學變化或物理(li)傷害，以(yi)考核產(chan)品的質(zhi)量及可用(yong)性。冷熱(re)沖擊(ji)箱已成為可靠(kao)性實驗室的*測(ce)試(shi)(shi)(shi)儀器。其主要(yao)適(shi)用(yong)于電子、汽(qi)車配件、塑(su)膠(jiao)、LED半導體(ti)照(zhao)明、連接器、通訊、光(guang)電光(guang)纖、化工、五金模(mo)具等行業，測(ce)試(shi)(shi)(shi)各種材料(liao)對高低(di)溫的反復沖擊(ji)能(neng)力。
更新時間:2023-08-17|
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LED三箱式冷(leng)熱(re)沖(chong)擊(ji)箱廠家技(ji)術參(can)數： 試驗(yan)機內箱容(rong)積及(ji)對應的尺寸可選(xuan)擇： 50升(sheng)（寬(kuan)400*高(gao)(gao)350*深(shen)(shen)350mm）； 80升(sheng)（寬(kuan)500*高(gao)(gao)400*深(shen)(shen)400mm）； 100升(sheng)（寬(kuan)600*高(gao)(gao)400*深(shen)(shen)400mm）； 150升(sheng)（寬(kuan)600*高(gao)(gao)500*深(shen)(shen)500mm）； 250升(sheng)（寬(kuan)700*高(gao)(gao)600*深(shen)(shen)600mm）； 1000升(sheng)（寬(kuan)1000*高(gao)(gao)1000*深(shen)(shen)1000mm）； 愛佩公(gong)司(si)還可以(yi)為廣(guang)大顧客(ke)非標(biao)定制不
更新時間:2023-08-16|
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小型(xing)冷熱沖擊式(shi)試驗箱結構及重要參(can)數(shu)： 1.測試箱溫(wen)度(du)沖擊范圍(wei)：-40℃～+150℃（可(ke)編程(cheng)(cheng)任(ren)(ren)意設(she)(she)定(ding)） 2.蓄熱箱溫(wen)度(du)范圍(wei)：+50℃～+150℃（可(ke)編程(cheng)(cheng)任(ren)(ren)意設(she)(she)定(ding)） 3.蓄冷箱溫(wen)度(du)范圍(wei)：0℃～-65℃（可(ke)編程(cheng)(cheng)任(ren)(ren)意設(she)(she)定(ding)） 4.蓄熱蓄冷時(shi)間：30分鐘以內
更新時間:2023-08-16|
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工業(ye)冷熱(re)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)沖擊箱技術參數： 溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)范圍（范圍內任選(xuan)）可以選(xuan)擇(ze)，A：-40℃~150℃；B：-55℃~150℃；-65℃~150℃，高溫(wen)(wen)(wen)(wen)影響價格不大(da)，所以般默(mo)認為150度(du)限高溫(wen)(wen)(wen)(wen)。 溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)轉換(huan)時間:10秒以內,溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)沖擊恢復時間：≤5min。 溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)波動(dong)度(du)：±0.5℃;溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)偏差：±2℃
更新時間:2023-08-16|
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北京實驗室冷熱沖擊箱是(shi)用于考核產品(pin)對周圍環(huan)(huan)境(jing)溫(wen)度急劇變化(hua)的(de)適應(ying)性，是(shi)裝(zhuang)備設(she)計定型的(de)鑒(jian)定試(shi)驗和批產階段(duan)的(de)例行試(shi)驗中*的(de)試(shi)驗，在(zai)有些情況下也(ye)可(ke)以(yi)用于環(huan)(huan)境(jing)應(ying)力(li)篩選試(shi)驗。主(zhu)要測試(shi)材料對高(gao)溫(wen)或低溫(wen)的(de)抵抗力(li)，這種(zhong)情況類似于不連續地處于高(gao)溫(wen)或低溫(wen)中的(de)情形，冷熱沖擊試(shi)驗能使各種(zhong)物品(pin)在(zai)Z短的(de)時間內(nei)完(wan)成測試(shi)。 內(nei)容積(ji)：50L 內(nei)箱尺(chi)寸：360 *350 *400mm
更新時間:2023-08-16|
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零下40度(du)冷熱沖擊(ji)測(ce)試儀器主要技術指標(biao) 沖擊(ji)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)范圍(wei)可選擇(ze)：A:150℃～-40℃;B:150℃～-55℃;C:150℃～-65℃; 儲存箱溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)范圍(wei)：高(gao)溫(wen)(wen)(wen)(wen)箱：RT～200℃ （空(kong)載） 低(di)溫(wen)(wen)(wen)(wen)箱：RT～-75℃ （空(kong)載） 溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)波動(dong)度(du)：±0.5℃ 溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)誤差(cha)：±2℃ 升溫(wen)(wen)(wen)(wen)速率：從(cong)常(chang)溫(wen)(wen)(wen)(wen)～200℃≤30min（程平(ping)均） 降溫(wen)(wen)(wen)(wen)速率：從(cong)常(chang)溫(wen)(wen)(wen)(wen)～-75℃≤40min（
更新時間:2023-08-16|
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-40℃低(di)溫冷(leng)熱沖擊試驗箱使用于(yu)電子、汽車(che)配件、塑膠等(deng)行業，測試各種材料對高、低(di)溫的(de)(de)(de)(de)(de)反復抵(di)拉(la)力(li)，試驗出產(chan)品于(yu)熱脹冷(leng)縮所產(chan)生的(de)(de)(de)(de)(de)化學變化或(huo)物理傷害，可(ke)確認產(chan)品的(de)(de)(de)(de)(de)品質，從(cong)的(de)(de)(de)(de)(de)IC到重機械的(de)(de)(de)(de)(de)組件，不需(xu)要它(ta)的(de)(de)(de)(de)(de)認同。
更新時間:2023-08-16|
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半導(dao)體封裝材料冷(leng)熱沖擊試驗箱(xiang)滿(man)足標(biao)準： GB 10589-89、GB 10592-89、GB 11158-89、GB/T 5170.2-1996、GB 2423.1-89、GB 2423.2-89、GB 2424.1-89、GJB 150.5-86、QC/T 17-92、IEA 364-32、IEC 68-2-14等(deng)。
更新時間:2023-08-16|
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高溫的(de)(de)冷熱沖擊箱(xiang)用途：用于(yu)電(dian)子(zi)電(dian)器零組(zu)件(jian)、自動化(hua)零部件(jian)、通訊組(zu)件(jian)、汽車配件(jian)、金(jin)屬、塑(su)膠等行業，防工(gong)(gong)業、航(hang)天(tian)、兵工(gong)(gong)業、電(dian)子(zi)芯(xin)片IC、 半導體(ti)陶瓷及高分子(zi)材料(liao)之物理性變(bian)化(hua),測試其材料(liao)對高、低溫的(de)(de)反復(fu)抵拉力(li)及產(chan)品于(yu)熱脹冷縮產(chan)出的(de)(de)化(hua)學變(bian)化(hua)或(huo)物理傷害，可確認產(chan)品的(de)(de)品質,從的(de)(de)IC到重機械(xie)的(de)(de)組(zu)件(jian)，不需要它的(de)(de)理想測試工(gong)(gong)具。
更新時間:2023-08-16|
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冷(leng)熱沖(chong)擊(ji)高(gao)(gao)低(di)(di)溫試(shi)(shi)驗箱是種(zhong)能施加高(gao)(gao)低(di)(di)溫度(du)應(ying)力且(qie)能實現在期望(wang)高(gao)(gao)低(di)(di)溫度(du)值能在瞬間快速變(bian)化的(de)試(shi)(shi)驗箱，由(you)加熱系統(tong)、制(zhi)冷(leng)系統(tong)、可(ke)程式控制(zhi)系統(tong)、溫度(du)循環風系統(tong)、溫度(du)傳感器系統(tong)等組成(cheng)。檢測(ce)產(chan)品(pin)(pin)(pin)于(yu)(yu)熱脹冷(leng)縮所產(chan)生的(de)化學(xue)變(bian)化或物理傷害，確(que)保產(chan)品(pin)(pin)(pin)的(de)品(pin)(pin)(pin)用于(yu)(yu)工業產(chan)品(pin)(pin)(pin)、電子(zi)元器件(jian)及其它(ta)產(chan)品(pin)(pin)(pin)的(de)安性能測(ce)試(shi)(shi)提供高(gao)(gao)低(di)(di)溫沖(chong)擊(ji)、忽冷(leng)忽熱等可(ke)靠性環境適應(ying)性試(shi)(shi)驗及產(chan)品(pin)(pin)(pin)篩選測(ce)試(shi)(shi)等，同時通(tong)過此設備(bei)的(de)試(shi)(shi)驗還可(ke)提高(gao)(gao)產(chan)品(pin)(pin)(pin)的(de)可(ke)靠性及質量控制(zhi)。 冷(leng)熱
更新時間:2023-08-16|
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高低溫(wen)循(xun)環沖(chong)擊測(ce)(ce)試(shi)(shi)實驗(yan)箱特點 1、分高溫(wen)區(qu)、低溫(wen)區(qu)、測(ce)(ce)試(shi)(shi)區(qu)三部分，測(ce)(ce)試(shi)(shi)樣品放(fang)置測(ce)(ce)試(shi)(shi)區(qu)完靜止，采(cai)用(yong)*之蓄熱(re)、蓄冷(leng)結構，強(qiang)制(zhi)(zhi)冷(leng)熱(re)風路(lu)切(qie)換方式(shi)導入測(ce)(ce)試(shi)(shi)區(qu)，完成冷(leng)熱(re)溫(wen)度(du)沖(chong)擊測(ce)(ce)試(shi)(shi)；既可(ke)(ke)作(zuo)(zuo)冷(leng)熱(re)沖(chong)擊試(shi)(shi)驗(yan)箱使用(yong)又可(ke)(ke)以作(zuo)(zuo)單(dan)獨(du)(du)的(de)高溫(wen)箱或單(dan)獨(du)(du)的(de)低溫(wen)箱使用(yong)； 2、可(ke)(ke)由測(ce)(ce)試(shi)(shi)孔外加負載配線(xian)測(ce)(ce)試(shi)(shi)部件(jian)； 3、大(da)型(xing)彩(cai)色(se)LCD觸控(kong)對話(hua)式(shi)微電(dian)腦控(kong)制(zhi)(zhi)系統(tong)，操作(zuo)(zuo)簡(jian)單(dan)易懂(dong)，運行(xing)狀態目了
更新時間:2023-08-16|
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深圳冷熱沖擊(ji)工業(ye)試(shi)驗箱用途：用來測試(shi)材料結(jie)構(gou)或(huo)復(fu)合(he)材料，在(zai)瞬(shun)間(jian)(jian)下經高溫及低溫的(de)連(lian)續環(huan)境下所能忍受的(de)程度(du), 藉以在(zai)Z短時間(jian)(jian)內試(shi)驗其因熱脹冷縮(suo)所引(yin)起(qi)的(de)化學變化或(huo)物理傷害(hai).適(shi)用的(de)對象包括金(jin)屬, 塑料, 橡膠, 電子....等材料,可作為(wei)其產品改(gai)進的(de)依據或(huo)參(can)考。 適(shi)用于電子、電工產品和其他軍用設備在(zai)周(zhou)圍大氣溫度(du)急劇(ju)變化條件下的(de)適(shi)應(ying)性試(shi)驗，也是篩選(xuan)電子元器件初期故障(zhang)的(de)助(zhu)手。
更新時間:2023-08-16