電池老化試(shi)驗箱(xiang)主要系(xi)統(tong)是低(di)溫(wen)制冷系(xi)統(tong)，愛佩(pei)公(gong)司低(di)溫(wen)和高(gao)溫(wen)試(shi)驗的(de)箱(xiang)及(ji)低(di)溫(wen)和高(gao)溫(wen)試(shi)驗的(de)機(ji)器均(jun)采(cai)用法密閉(bi)式“泰康”壓(ya)縮機(ji)組作為主要核心配(pei)置，堅(jian)固可(ke)(ke)靠(kao)，時(shi)效(xiao)耐久，大(da)(da)大(da)(da)提(ti)升設(she)(she)備之使用壽命與(yu)效(xiao)能(neng)。控(kong)(kong)制器采(cai)用韓*的(de)觸(chu)摸智能(neng)型(xing)控(kong)(kong)制器，中英(ying)文畫面選擇(ze)觸(chu)控(kong)(kong)式屏幕面板，程(cheng)(cheng)(cheng)序(xu)編輯容易(yi)，操作簡單。120組程(cheng)(cheng)(cheng)序(xu)Z大(da)(da)容量，每組可(ke)(ke)記憶(yi)100段溫(wen)濕度。可(ke)(ke)顯示(shi)完整的(de)系(xi)統(tong)操作狀況、實(shi)時(shi)顯示(shi)執行及(ji)設(she)(she)定程(cheng)(cheng)(cheng)序(xu)曲線。

電池老化試驗箱箱體結構:

箱(xiang)體(ti)保溫采用超細玻璃纖維保溫棉(mian)，可避(bi)免(mian)不(bu)必(bi)要(yao)的能量損失。

箱體左側配直徑50mm的測試(shi)孔，可供外接測試(shi)電源線(xian)或信號線(xian)使用。

采用(yong)數控機床(chuang)加工成(cheng)型(xing)，造(zao)型(xing)美(mei)觀(guan)大方，并采用(yong)反作用(yong)把手，操(cao)作簡便(bian)。

箱體內(nei)膽(dan)采用進口不(bu)銹鋼（SUS304）鏡面板(ban)，箱體外膽(dan)采用A3鋼板(ban)噴塑(su)，增(zeng)加了外觀質感和潔(jie)凈度。

電池老化試驗箱廠家型號規(gui)格:（除了以下尺(chi)寸，還有非標尺(chi)寸可以定(ding)制）

AP-GD-80=內部尺寸：（W×H×D）㎜：400×500×400

AP-GD-150=內(nei)部(bu)尺寸：（W×H×D）㎜：500×600×500

AP-GD-225=內(nei)部(bu)尺寸：（W×H×D）㎜：500×750×600

AP-GD-408=內部尺寸：（W×H×D）㎜：600×850×800

AP-GD-800=內部尺寸：（W×H×D）㎜：1000×1000×800

AP-GD-1000=內部(bu)尺寸：（W×H×D）㎜：1000×1000×1000

低溫(wen)和(he)高溫(wen)的溫(wen)度(du)范圍可選(xuan)：D：-70℃～+150℃；B：-40℃～+150℃；C：-20℃～+150℃；D：0℃～+150℃

溫度(du)波動(dong)度(du)/偏差：±0.5℃/≤ ±2.0℃

降溫時(shi)間：+20→-70℃ ≤ 90分鐘（約1℃/min）；升溫時(shi)間：RT→+150℃ ≤ 40分鐘（約3℃/min）